2018年度 材料機器分析特論   Advanced Course of Instrumental Analysis for Materials

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開講元
材料コース
担当教員名
松下 伸広  福永 啓一  朝比奈 俊輔  森 憲久  松島 英輝  島 政英  堤 建一  佐藤 智重  内海 博明  中井 由実  佐藤 貴弥  衣笠 元気  有井 忠  紺谷 貴之 
授業形態
講義
メディア利用
 
曜日・時限(講義室)
火7-8(S7-202, G111)  金7-8(S7-202, G111)  
クラス
-
科目コード
MAT.C405
単位数
2
開講年度
2018年度
開講クォーター
3Q
シラバス更新日
2018年5月25日
講義資料更新日
-
使用言語
日本語
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講義の概要とねらい

いろいろな材料に対しての評価・分析用として現在、数多くの分析機器が用いられている。本講義では材料研究において用いられている分析機器のうち、汎用的に使用されてかつ重要な先端分析機器について、その原理から最新の測定例を含めた応用に関する講義を行い、その知識を身に着けることをねらいとしている。

到達目標

本講義を通して説明される種々の機器分析手法について、それぞれの原理と応用方法についての最新知識を習得する。

実務経験のある教員等による授業科目等

-

キーワード

TEM,SEM,EPMA,SAM,XPS,FIB,NMR,ESR,XRF,XRD,熱分析

学生が身につける力(ディグリー・ポリシー)

専門力 教養力 コミュニケーション力 展開力(探究力又は設定力) 展開力(実践力又は解決力)

授業の進め方

本講義では、各回ごとに異なる機器分析手法をその基礎化から応用方法にわたって説明される。
毎回配布される資料をもとにこれらを拝聴し、研究へ役立てる知識として習得する。

授業計画・課題

  授業計画 課題
第1回 透過電子顕微鏡(TEM)の基礎と応用 透過電子顕微鏡(TEM)の基礎と応用を知る。
第2回 走査電子顕微鏡(SEM)の基礎と応用 走査電子顕微鏡(SEM)の基礎と応用を知る。
第3回 電子線マイクロアナライザ(EPMA)の基礎と応用 電子線マイクロアナライザ(EPMA)の基礎と応用を知る。
第4回 オージェ電子分光装置(AES)の基礎と応用 オージェ電子分光装置(AES)の基礎と応用を知る。
第5回 光電子分光装置(XPS)の基礎と応用 光電子分光装置(XPS)の基礎と応用を知る。
第6回 収束イオンビーム装置(FIB)の基礎と応用 収束イオンビーム装置(FIB)の基礎と応用を知る。
第7回 核磁気共鳴装置(NMR)の基礎と応用 核磁気共鳴装置(NMR)の基礎と応用を知る。
第8回 電子スピン共鳴装置(ESR)の基礎と応用 電子スピン共鳴装置(ESR)の基礎と応用を知る。
第9回 質量分析(MS)の基礎と応用 質量分析(MS)の基礎と応用を知る。
第10回 蛍光X線分析装置(XRF)の基礎と応用 蛍光X線分析装置(XRF)の基礎と応用を知る。
第11回 走査プローブ顕微鏡(SPM)の基礎と応用 走査プローブ顕微鏡(SPM)の基礎と応用を知る。
第12回 X線回折装置(XRD)の基礎と応用 X線回折装置(XRD)の基礎と応用を知る。
第13回 熱分析装置の基礎と応用 熱分析装置の基礎と応用を知る。
第14回 プレゼンテーションとディスカッション1 受講者全員による機器分析の紹介
第15回 プレゼンテーションとディスカッション2 受講者全員による機器分析の紹介

教科書

指定しない。関連資料が配布される。

参考書、講義資料等

指定しない。

成績評価の基準及び方法

出席点,レポート点,プレゼンターション評点で総合的に評価する.

関連する科目

  • MAT.C302 : 分光学

履修の条件(知識・技能・履修済科目等)

特になし

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