2017年度 テラヘルツデバイス・システム   Terahertz Devices and Systems

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開講元
電気電子コース
担当教員名
河野 行雄 
授業形態
講義
メディア利用
 
曜日・時限(講義室)
火5-6(S223)  金5-6(S223)  
クラス
-
科目コード
EEE.D561
単位数
2
開講年度
2017年度
開講クォーター
4Q
シラバス更新日
2017年3月21日
講義資料更新日
-
使用言語
英語
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講義の概要とねらい

 テラヘルツ(THz)技術は現在、基礎科学から高速無線通信、医療、セキュリティ等の実用分野に至る幅広い領域で必須とされています。ところが、THz周波数帯は、エレクトロニクスの領域とフォトニクスの領域の間に位置しているため、他の周波数帯に比べて検出器や発振器等の基本的な要素技術さえ発展途上です。
 本講義では、THzデバイス・システムについて包括的に紹介し、この分野でブレークスルーを起こすための助言を与えます。

到達目標

テラヘルツ技術の開拓には、エレクトロニクスの側とフォトニクスの側の双方からのアプローチがあります。本講義を通じて、学生は、電子・電磁波・光デバイスならびに計測に関する幅広い知識を獲得することができます。

キーワード

テラヘルツ、発振器、検出器、分光、イメージング

学生が身につける力(ディグリー・ポリシー)

専門力 教養力 コミュニケーション力 展開力(探究力又は設定力) 展開力(実践力又は解決力)

授業の進め方

講義とともに、学生間での議論やプレゼンテーションも取り入れます。

授業計画・課題

  授業計画 課題
第1回 イントロダクション テラヘルツ技術の背景を理解する
第2回 発振器1 主にエレクトロニクスに基づくテラヘルツ発振器について学ぶ。
第3回 発振器2 主にフォトニクスに基づくテラヘルツ発振器について学ぶ。
第4回 検出器1 主にエレクトロニクスに基づくテラヘルツ検出器について学ぶ。
第5回 検出器2 主にフォトニクスに基づくテラヘルツ検出器について学ぶ。
第6回 アンテナ, フィルタ等の各種コンポーネント アンテナ, フィルタ等の各種コンポーネントについて学ぶ。
第7回 理解度確認総合演習 第1回~6回の講義内容について理解度を確認する。
第8回 分光計測1 テラヘルツ分光計測の手法を学ぶ。
第9回 分光計測2 テラヘルツ分光計測の手法を学ぶ。
第10回 イメージング計測1 テラヘルツイメージング計測の手法を学ぶ。
第11回 イメージング計測2 テラヘルツイメージング計測の手法を学ぶ。
第12回 テラヘルツ技術の応用1 テラヘルツ技術の応用(主にセンシング・分析)について学ぶ。
第13回 テラヘルツ技術の応用2 テラヘルツ技術の応用(主に無線通信)について学ぶ。
第14回 発展的展開 最先端の研究内容を知る。
第15回 まとめと復習 第1回~14回の講義内容についてまとめをし、復習する。

教科書

特になし

参考書、講義資料等

斗内 政吉、『テラヘルツ技術』オーム社 ISBN: 978-4274202414
深澤 亮一、『分析・センシングのためのテラヘルツ波技術』日刊工業新聞社 ISBN: 978-4526071232
Handbook of Terahertz Technologies: Devices and Applications, edited by Ho-Jin Song and Tadao Nagatsuma, ISBN: 978-9814613088
Handbook of Terahertz Technology for Imaging, Sensing and Communications, edited by D. Saeedkia, ISBN: 978-0-85709-235-9

成績評価の基準及び方法

テラヘルツ技術に関する基礎的事項の理解を評価する。講義での発表・議論(30%)、演習(30%)、レポート(40%)

関連する科目

  • EEE.D211 : 半導体物性
  • EEE.D351 : 電子デバイス第一
  • EEE.D352 : 電子デバイス第二
  • EEE.D331 : 半導体の光・電磁物性

履修の条件(知識・技能・履修済科目等)

上記の「関連する科目」を履修していることが望ましい。

その他

メールで事前に連絡すること。

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