2019年度 応用化学機器分析特論   Advanced Instrumental Analysis

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開講元
応用化学コース
担当教員名
由井 宏治  笠間 健嗣  尾嶋 正治  星野 学 
授業形態
講義
曜日・時限(講義室)
水5-8(S423)  
クラス
-
科目コード
CAP.A481
単位数
1
開講年度
2019年度
開講クォーター
4Q
シラバス更新日
2019年3月18日
講義資料更新日
2019年12月4日
使用言語
日本語
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講義の概要とねらい

[講義の概要] 質量分析、原子軌道電子の励起を利用した分析、単結晶X線構造解析、赤外吸収分光法について講述する。
[講義のねらい] 化合物の構造決定は、化学のあらゆる分野において不可欠である。この講義では、化合物の構造決定および特性解析に不可欠な分析法の原理とその解釈について学ぶ。また、最新の分析技術について講述する。

到達目標

本講義を履修することによって次の能力を修得する。
(1) 機器分析法の原理を説明できる。
(2) 機器分析法によって得られる結果を解釈できる。
(3) 最新の機器分析技術を説明できる。

キーワード

質量分析(MS)、X線光電子分光法(XPS)、オージェ電子分光法(AES)、X線マイクロ分析(EPMA)、X線吸収端微細構造解析(EXAFS)、単結晶X線構造解析、赤外吸収分光法

学生が身につける力

国際的教養力 コミュニケーション力 専門力 課題設定力 実践力または解決力
- - -

授業の進め方

本講義は、(1)質量分析、(2)原子軌道電子の励起を利用した分析、(3)単結晶X線構造解析、(4)赤外吸収分光法、について概説する。

授業計画・課題

  授業計画 課題
第1回 質量分析の基礎 質量分析の原理を説明できる。
第2回 質量分析の応用 質量分析で得られるスペクトルを解釈できる。
第3回 X線光電子分光法(XPS)、オージェ電子分光法(AES) XPSとAESの原理を説明し、スペクトルを解釈できる。
第4回 X線マイクロ分析(EPMA)、X線吸収端微細構造解析(EXAFS) EPMAとEXAFSの原理を説明し、スペクトルを解釈できる。
第5回 単結晶X線構造解析の基礎 単結晶X線構造解析の原理を説明できる。
第6回 単結晶X線構造解析の応用 単結晶X線構造解析で得られる結果を解釈できる。
第7回 赤外吸収分光法の基礎 赤外吸収分光法の原理を説明できる。
第8回 赤外吸収分光法の実践 赤外吸収分光法で得られるスペクトルを解釈できる。

教科書

指定しない。

参考書、講義資料等

資料は講義中に配布する。

成績評価の基準及び方法

理解度確認のための演習またはレポート(50%)、授業参加度(50%)(授業参加度は授業での討論、小テストなどにより算出する)

関連する科目

  • CAP.A421 : 有機反応化学特論第一
  • CAP.A422 : 有機反応化学特論第二
  • CAP.A461 : 無機固体化学特論第一
  • CAP.A462 : 無機固体化学特論第二
  • CAP.A465 : 生物無機化学特論第一
  • CAP.A466 : 生物無機化学特論第二
  • CAP.T531 : 触媒反応特論第一
  • CAP.T532 : 触媒反応特論第二
  • CAP.A423 : 有機合成化学特論第一
  • CAP.A424 : 有機合成化学特論第二

履修の条件(知識・技能・履修済科目等)

関連する科目を履修していることが望ましい。

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