工学計測基礎第1を踏まえ、融合理工学実験に向けた準備として、工学的に重要な様々な物理量の計測原理について学ぶ。計測の基礎となる電気電子回路から各種分析機器の基本原理、構成、実際の応用例などを理解する。
様々な物理量の計測原理と各種分析機器の基本原理、実際の応用例までを理解し、計測結果の真の意味を読み取ることができるようになる。ただし、個々の計測機器の操作方法を習熟することは、本講義の範囲としない。
✔ 該当する | 実務経験と講義内容との関連(又は実践的教育内容) |
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クロス教授は、日本の産業界で14年間、半導体メモリの研究開発に従事し、30件以上の特許を執筆しています。また、業界専門家によるゲスト講演も予定しています。 |
計測、計測原理、分析
✔ 専門力 | 教養力 | コミュニケーション力 | 展開力(探究力又は設定力) | ✔ 展開力(実践力又は解決力) |
6名の教員によるオムニバス形式
授業計画 | 課題 | |
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第1回 | - 工学計測の基本概念 - 位置、距離、角度測定 | - 工学計測の基本的な概念を理解する - 位置、距離、角度測定の方法とツールが理解できる |
第2回 | - 速度、加速度、力計測 - 計測のデジタル化 - 地震工学における計測 | - 速度、加速度、力の計測方法とツールが理解できる - 測定したアナログデータをデジタルに変換する - 地震工学における計測方法と計測ツールが理解できる |
第3回 | 分析機器1(SEM, TEM, X線回折, EPMA, EDX(EDS)) | 分析機器を用いた材料特性評価に関する基本的な理解 |
第4回 | デジタルマイクロメーターによる物理測定(長さ、幅)、電気測定、測定のリスク分析 | 物理的および電気的測定, リスク分析、標準作業手順、測定誤差 |
第5回 | 材料特性評価1(pH計、GC、HPLC) | pHメータ、ガスクロマトグラフィー(GC)、高速液体クロマトグラフィー(HPLC)を用いた気体・液体分析の基本的な考え方を理解する。 |
第6回 | 材料特性評価2(顕微鏡、SEM、TEM) | 顕微鏡、走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子顕微鏡(TEM)を用いた固体解析の基本的な考え方を理解する。 |
第7回 | 業界専門家によるゲスト講演 | 分析機器の産業的重要性、商品化、技術開発について理解する。 |
学修効果を上げるため,教科書や配布資料等の該当箇所を参照し,「毎授業」授業内容に関する 予習と復習(課題含む)をそれぞれ概ね100分を目安に行うこと。
各担当教員が指定するもの
各担当教員が必要に応じて講義資料を配布する
到達目標の達成度を試験and/orレポートで評価する
英会話と英語でのレポート作成に堪能であること
- クラス全体の定員は20名で、TSE・GSEPの受講生を優先しています。
- コーススケジュールのトピックの順番は変更になる可能性があります。