2017年度 セラミックス薄膜特論   Advanced Course of Ceramic Thin Film Technology

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開講元
材料コース
担当教員名
篠﨑 和夫  脇谷 尚樹  坂元 尚紀 
授業形態
講義     
メディア利用科目
曜日・時限(講義室)
月3-4(S7-201, ※7/17(月)以降はS224)  木3-4(S7-201, ※7/17(月)以降はS224)  
クラス
-
科目コード
MAT.C403
単位数
2
開講年度
2017年度
開講クォーター
2Q
シラバス更新日
2017年3月17日
講義資料更新日
2017年7月28日
使用言語
日本語
アクセスランキング

講義

第1回 序論・薄膜成長技術概論 (I)

2017年06月12日(月) 3-4時限開講

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第2回 薄膜成長技術概論 (Ⅱ)、実験装置見学(希望者)

2017年06月15日(木) 3-4時限開講

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第3回 セラミックス薄膜成長の基礎 (I)

2017年06月19日(月) 3-4時限開講

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第4回 セラミックス薄膜成長の基礎 (Ⅱ)

2017年06月22日(木) 3-4時限開講

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第5回 セラミックス薄膜成長の基礎 (Ⅲ)

2017年06月26日(月) 3-4時限開講

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第6回 セラミックス薄膜成長の基礎 (Ⅳ)

2017年06月29日(木) 3-4時限開講

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第7回 PVD法によるセラミックス薄膜作成と応用

2017年07月03日(月) 3-4時限開講

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第8回 CVD法によるセラミックス薄膜作成と応用

2017年07月06日(木) 3-4時限開講

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第9回 セラミックス薄膜成長の応用

2017年07月10日(月) 3-4時限開講

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第10回 キャラクタリゼーション技術 (I):X線回折法の基礎と薄膜構造評価への応用

2017年07月13日(木) 3-4時限開講

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第11回 キャラクタリゼーション技術 (Ⅲ):分子振動と格子振動の計算

2017年07月17日(月) 3-4時限開講

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第12回 キャラクタリゼーション技術 (Ⅱ):透過型電子顕微鏡による薄膜構造評価

2017年07月20日(木) 3-4時限開講

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第13回 キャラクタリゼーション技術 (Ⅳ):薄膜における格子振動の測定

2017年07月24日(月) 3-4時限開講

講義

第14回 キャラクタリゼーション技術 (Ⅴ):走査型プローブ顕微鏡

2017年07月27日(木) 3-4時限開講

講義

第15回 キャラクタリゼーション技術 (Ⅵ):電気特性測定法

2017年07月31日(月) 3-4時限開講

講義

第16回 期末試験

2017年08月03日(木) 3-4時限開講

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