- 開講元
- 材料系
- 担当教員名
- 淺井 茂雄
- 授業形態
- 講義
- メディア利用科目
- 曜日・時限(講義室)
- 水3-4(S8-102)
- クラス
- -
- 科目コード
- MAT.P322
- 単位数
- 1
- 開講年度
- 2019年度
- 開講クォーター
- 3Q
- シラバス更新日
- 2019年3月18日
- 講義資料更新日
- -
- 使用言語
- 日本語
- アクセスランキング
-
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講義の概要とねらい
結晶性高分子の構造と物性について研究するためには、その構造形成において重要な結晶化について理解し、構造と物性を評価するために様々な分析・解析手法を身に付ける必要があります。結晶性高分子の構造と物性の評価方法の中でも特に重要な手法である広角Ｘ線回折及び光散乱について講義します。
到達目標
【到達目標】 本講義を履修することによって、結晶性高分子の構造形成において重要な結晶化について理解し、その構造と物性を評価するために必要な手法である広角Ｘ線回折及び光散乱の基礎を身につけることを到達目標とします。
【テーマ】 本講義では、高分子の結晶化と融解、広角Ｘ線回折及び光散乱による高分子材料の評価などの事項を理解することを目的とします。
キーワード
高分子の構造と物性、高分子の結晶化、広角Ｘ線回折、高分子のＸ線回折、結晶配向、光散乱
学生が身につける力(ディグリー・ポリシー)
| ✔ 専門力 | 教養力 | コミュニケーション力 | 展開力(探究力又は設定力) | ✔ 展開力(実践力又は解決力) |
授業の進め方
各回の授業内容をチェックし、OCW-iの講義資料を読んでおくこと。
毎回の授業で出席を取ります。
授業計画・課題
| 授業計画 | 課題 | |
|---|---|---|
| 第1回 | 高分子の構造と物性～イントロダクション | |
| 第2回 | 高分子の結晶化と融解 | |
| 第3回 | Ｘ線回折・散乱の基礎 | |
| 第4回 | Ｘ線回折の基礎理論 | X線回折条件の説明 |
| 第5回 | 広角Ｘ線回折の測定法 | |
| 第6回 | 高分子の結晶サイズ及び結晶化度の評価 | 結晶サイズ及び結晶化度の評価方法の説明 |
| 第7回 | 高分子の結晶配向の評価方法の説明 | 結晶配向の評価方法の説明 |
| 第8回 | 光散乱による高分子の高次構造評価 |
教科書
特になし
参考書、講義資料等
講義資料は、事前にOCW-iにアップする。
成績評価の基準及び方法
期末試験（80％）、小テスト（20％）で成績を評価する。
関連する科目
- MAT.P323 ： 有機材料物性B
履修の条件(知識・技能・履修済科目等)
履修の条件を設けない。
