組織評価の結晶学   Microstructural Characterization of Materials

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担当教員
藤居 俊之 
使用教室
火7-8(J232)  
単位数
講義:2  演習:0  実験:0
講義コード
97037
シラバス更新日
2008年10月1日
講義資料更新日
2008年10月1日
学期
後期

講義概要

結晶性材料の構造,微細組織,欠陥,等を評価する際に必要となる結晶学を詳述する。結晶の対称性,ステレオ投影法,X線回折による結晶方位解析,電子顕微鏡法について具体例を学びつつ,材料評価手法を取得する。

なお,本講義と「Crystallography for Microstructural Characterization」との重複受講は認めない。

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