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結晶性材料の構造,微細組織,欠陥,等を評価する際に必要となる結晶学を詳述する。結晶の対称性,ステレオ投影法,X線回折による結晶方位解析,電子顕微鏡法について具体例を学びつつ,材料評価手法を取得する。なお,本講義と「Crystallography for Microstructural Characterization」との重複受講は認めない。