- 担当教員
- 山本 直紀
- 使用教室
- 月7-8(J234)
- 単位数
- 講義：1 演習：0 実験：0
- 講義コード
- 96023
- シラバス更新日
- 2013年10月1日
- 講義資料更新日
- 2013年10月1日
- アクセス指標
-
- 学期
- 後期
講義概要
本講義では透過型電子顕微鏡についてその構造の説明から始めて、様々な観察法とその観察結果を理解するための基礎理論について講義する。
講義の目的
電子顕微鏡法は，物質の示すマクロな性質をミクロな構造から理解し研究を進める広い分野で活用される研究手法である。材料科学においては多くの場合結晶物質が研究の対象となるので，電子顕微鏡法は材料の性質を理解する上で有用な情報を与える。しかし、電子顕微鏡像の形成過程における電子回折現象の理解無しには詳しい情報は得られない。本講義では，結像過程および電子回折の基礎と具体的応用について詳述する。
講義計画
１． 電子顕微鏡の構造
電子銃、磁界レンズ、照射系、結像系、カメラ室、排気系
２． 電子回折の運動学的理論
構造因子、反射強度、回折図形、菊池図形
３． 明視野・暗視野像法
２波励起、撮影法、等厚干渉縞、等傾角干渉縞、分域
４． 動力学的理論と像コントラスト
２波近似、転位、積層欠陥、分域壁、分域
５． 高分解能電子顕微鏡法
６． 収束電子回折
７． 分析電子顕微鏡（EDX,EELS)
教科書・参考書等
1.上田良二 「電子顕微鏡」共立出版
2.堀内繁雄 「高分解能電子顕微鏡」共立出版
3.Hirsch, et al."Electron Microscopy of Thin Crystals"1965,(Butterworth and Co, London)
4.J.M. Cowley "Diffraction Physics" North-Holland PL
5.D.B. Williams and C.B. Carter "Transmission Electron Microscopy I-IV" Plenum Press,(New York, 1996)
関連科目・履修の条件等
条件は無いが、固体物性関連の講義を受講していることが望ましい。
成績評価
レポート
