- 担当教員
- 笹島 和幸
- 使用教室
- 月7-8(W831)
- 単位数
- 講義：2 演習：0 実験：0
- 講義コード
- 77010
- シラバス更新日
- 2010年3月22日
- 講義資料更新日
- 2010年3月22日
- 学期
- 前期
講義概要
機械計測の基本を学び，メカトロニクスやファクトリーオートメーション構築のための計測情報の処理とその活用法を検討する。さらに，最新技術を駆使する新しいシステムの開発に必要な計測設計論について考える。
講義の目的
機械計測の基本を学び，メカトロニクスやファクトリーオートメーション構築の
ための計測情報の処理とその活用法を検討する．さらに，最新技術を駆使する新
しいシステムの開発に必要な計測設計論について考える．
講義計画
【内容項目】
・機械計測 ・計測情報の処理 ・幾何形状計測法 ・形状情報の最適化処理
・計測システム設計論 ・計測情報の国際一致性
【講義計画】
01.計測システムと情報の流れ
02.計測情報の離散化処理
03.不規則信号の性質と処理
04.接触方式機械計測法
05.非接触方式機械計測法
06.幾何形状の定義と性質
07.Product Liability と幾何学的精度
08.三次元計測法
09.三次元計測システム
10.三次元計測情報の最適化処理
11.運動精度論
12.不規則信号の計測
13.不規則信号のFractal解析法
14.不規則信号の統計処理法
15.計測システムの最適設計論
教科書・参考書等
なし
参考書等
１．J.M.Rueger;Electronic Distance Measurement, Springer-Verlag(1990)
２．築添正；精密測定学，養賢堂(1986)
３．J.S.Bendat and A.G.Piersol;Analysis and Measurement Procedures,
John Wiley & Sons,Inc.(1971)
４．J.Feder;Fractals,Plenum Press,N.Y.(1988)
５．M.J.Bx, D.Davies and W.H.Swann;Mathematical and Statistical Techniques,
Imperial Chemical IndustriesLtd.
関連科目・履修の条件等
精密計測基礎（学部）
