- 使用教室
- 月5-6(S7-201)
- 単位数
- 講義：2 演習：0 実験：0
- 講義コード
- 24029
- シラバス更新日
- 2011年9月20日
- 講義資料更新日
- 2011年9月20日
- 学期
- 後期
講義概要
材料の微構造を解析するための各種機器分析装置について，測定方法，解析方法，有用性などを解説する。
講義の目的
色々な材料に対しての評価・分析用として現在、数多くの分析機器が用いられている。本講義では多くの分析機器のうち、汎用的に使用されている主な分析機器について、その原理から最新の測定例を含めた応用に関する講義を行う。
講義計画
01.機器分析概論
02.透過電子顕微鏡(TEM)の基礎と応用
03.走査電子顕微鏡(SEM)の基礎と応用
04.電子線マイクロアナライザ(EPMA)の基礎と応用
05.オージェ電子分光装置(AES)の基礎と応用
06.光電子分光装置(XPS)の基礎と応用
07.走査プローブ顕微鏡(SPM)の基礎と応用
08.収束イオンビーム装置の基礎と応用
09.Ｘ線回折装置(XRD)／蛍光Ｘ線分析装置(XRF)
10.赤外／ラマン分光装置の基礎と応用
11.核磁気共鳴装置(NMR)の基礎と応用
12.電子スピン共鳴装置(ESR)の基礎と応用
13.質量分析(MS)の基礎と応用
14.機器分析装置の見学（工場見学）
教科書・参考書等
特に指定しない
参考書等
特に指定しない
関連科目・履修の条件等
なし
成績評価
出席点,レポート点で総合的に評価する．
担当教員の一言
色々なタイプの分析機器について,その原理,分析能力,特徴,分析法等を良く理解しておくことは,分析目的に合った分析機器を選択する際の大いなる手助けとなると思われる．
