- 担当教員
- 安藤 慎治
- 使用教室
- 水3-4(H118)
- 単位数
- 講義：1 演習：0 実験：0
- 講義コード
- 19050
- シラバス更新日
- 2014年9月18日
- 講義資料更新日
- 2014年9月18日
- 学期
- 後期
講義の目的
高分子の機器分析技術の総論および各論を包括的に理解する．
講義計画
教員が高分子機器分析の概要について解説したあと、受講生が自身の研究に関連の深い高分子機器分析法を2つ選んで、その基礎、装置、試料、測定法、実際の高分子分析への応用について調査した結果を約25分発表し、10～15分の質疑応答を行う．内容は教員が補足する．
1) 赤外分光法（中赤外領域、ATR、RAS、顕微分光を含む）
2) 近赤外＋遠赤外分光法（テラヘルツ領域を含む）
3) UV/Vis光透過スペクトル、蛍光／励起スペクトル
4) ラマン分光法
5) NMR法基礎＋固体NMR入門
6) 固体NMR法
7) 質量分析法（MALDI-TOF、二次イオン、昇温脱離を含む）
8) 広角X線回折法
9) 小角X線回折法
10) 放射光施設による高分子分析
11) 中性子線回折法
12) 熱分析（TGA, DTA, DSC, 熱分解GCを含む）
13) 熱伝導率／熱拡散率
14) 熱膨張率 (TMA, PVT実験を含む)
15) 分子量／分子量分布 ＋粘度測定
16) X線光電子分光 (XPS)／X線吸収分光
17) 電子顕微鏡１ (SEM)
18) 電子顕微鏡２ (TEM, EDX分析を含む)
19) 原子間力顕微鏡／近接場光学顕微鏡／レーザ顕微鏡
20) 機械物性／力学物性 (弾性率など)
21) 光学物性分析 (屈折率、複屈折、熱光学係数など)
22) 表面／界面に関連する分析技術 (表面張力測定を含む)
23) 計算化学手法（分子軌道法／DFT）
24) 静的・動的光散乱
25) 誘電緩和スペクトル
26) 高分子薄膜の物性分析 (エリプソメトリー、X線吸収など)
教科書・参考書等
講義･発表の資料は当日配布する．
参考書：西岡利勝 編『高分子分析入門』
関連科目・履修の条件等
修士課程での履修が望ましいが、隔年開講のためB4での受講も受け入れる。
成績評価
講義中の課題およびレポートによる。
担当教員の一言
物理化学・電磁気学・量子力学の基礎が理解できていることが講義の前提となる．
連絡先（メール、電話番号）
安藤 慎治 教授（物質科学専攻）東2号館302号室（内線2137）sando＠polymer.titech.ac.jp
その他
西暦偶数年開講.奇数年は休講．
