走査トンネル顕微鏡(STM)は、鋭く尖らせた探針により試料表面の凹凸を原子レベルの空間分解能で観察でき、さらに、試料表面の電子状態を測定できる(STS)顕微鏡である。STMから派生して、電子、原子間力、光等の物理媒体の染み 出しをプローブで高精度に観察して、試料表面の物理情報を高い空間分解能で画像化する走査プローブ顕微鏡(SPM)も非常に特徴的な顕微鏡である。本講義では、STM/STSの基礎、STMの装置、STM像の解釈、SPMの分解能を総説して、トピックスとして、水素終端シリコン表面での原子操作、SPMのナノデバイス評価への応用、カーボンナノチューブ・グラフェンの科学、有機薄膜トランジスタにおけるナノ構造制御等について概説する。
本講義では、STM/STSの基礎、STMの装置、STM像の解釈、SPMの分解能を総説して、トピックスとして、水素終端シリコン表面での原子操作、SPMのナノデバイス評価への応用、カーボンナノチューブ・グラフェンの科学、有機薄膜トランジスタにおけるナノ構造制御等について概説する。
1.STMの装置
2.STM像の解釈
3.SPMと分解能
4.トピックス1:シリコン表面電導
5.トピックス2:水素終端シリコン表面での原子操作
6.トピックス3:SPMのナノデバイス評価への応用
7.トピックスその他
参考文献を授業中に紹介する。
特に無し。
レポートによる。
大学院生だけでなく4年生の聴講も歓迎します。
STM用の探針の調整法など、技術的な質問も歓迎します。