計測機器演習第二   Practical Exercises for Advanced Instrumental Measurements II

文字サイズ 

担当教員
尾関 智二  植草 秀裕  関根 あき子  森本 樹  石田 豊  畑中 翼 
使用教室
水3-4(H117)  
単位数
講義:0  演習:1  実験:0
講義コード
13055
シラバス更新日
2013年3月21日
講義資料更新日
2013年3月21日
学期
前期

講義概要

1.粉末試料の調製
2.一次元高速検出器を用いた粉末X線回折データの収集
3.粉末X線回折データの指数付け
4.結晶の作成方法と選び方
5.二次元検出器を用いた単結晶X線回析データの収集
6.晶系および空間群の決定
7.直接法による位相決定
8.最小二乗法による構造の精密化
9.結果の評価とまとめ方

講義の目的

X線構造解析は物質の三次元構造を決定するもっとも有力な手段として、物質科学・化学研究において広く利用されている。本演習は、高速検出器の普及および解析プログラムの進歩に伴い急速に変貌を遂げつつある粉末および単結晶X線構造解析法について、最新の手法に触れるとともに基本的概念を理解することを目的とする。

講義計画

1. 結晶X線構造解析の原理と測定法
2. 粉末試料の調製と回折計の使い方
3. 粉末回折データの解析法 
4. 単結晶の取り扱いと回折計の使い方
5. 格子定数および晶系の決定と回折強度データ収集
6. 直接法による構造決定と最小二乗法による構造精密化
7. 結果の評価と論文投稿用データの作成
8. 結晶構造の作図と分子間相互作用の検討
9. 結晶構造データベースの検索
10. 解析結果のプレゼンテーション

教科書・参考書等

必要に応じて随時配布する

参考書等
参考書:第5版実験化学講座「11 物質の構造III 回折」丸善

関連科目・履修の条件等

化学専攻・物質科学専攻いずれかの専攻の学生に限る

成績評価

出席、平常の演習態度およびレポート

このページのトップへ