最先端計測機器概論   Scope of Advanced Instrumental Measurements

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担当教員
岩澤 伸治  河合 明雄  楠見 武徳  櫻井 尋海  枝元 一之  田中 健一郎 
使用教室
水1-2(H135)  
単位数
講義:2  演習:0  実験:0
講義コード
13042
シラバス更新日
2011年3月23日
講義資料更新日
2011年3月23日
学期
前期

講義概要

質量分析法,光電子分光法,X線結晶構造解析,核磁気共鳴スペクトル 等,最先端の研究現場で日常的に利用されている計測手法に関し,基礎的な原理から最先端の利用例までを概説する。

講義の目的

核磁気共鳴スペクトル、X線結晶構造解析、質量分析法、表面分析法の基礎から最先端の手法までを概説する。

講義計画

核磁気共鳴スペクトル(NMR)は有機分子等の構造解析,物性解析の手段として、現在なくてはならないものになっている。今日では複雑な蛋白質の水溶液中での立体構造でさえもNMRで決めることができるようになっている。このような有機分子の構造解析法として最も重要なNMRについて基礎から応用までを概説する。
X線結晶構造解析では、結晶中の原子・分子の配列を三次元的に明らかにする結晶構造解析の手法と、その応用である結晶構造データベースを利用した構造化学について概説する。
質量分析法(MS)は、簡単な分子から高分子(ポリマー、タンパク質等)まで高感度に検出できる。2002年に田中耕一氏らがノーベル化学賞を受賞して注目を集めたマトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法(MALDI-MS)もその1手法である。近年、試料導入部、イオン源、検出部、データ処理などの急速な技術進歩に伴い解析法として広く利用されるようになり、今後の発展も期待されるMS法について基礎から応用までを解説する。
光、電子、イオンをプローブとする表面分析法(紫外光電子分光、X線光電子分光、オージェ電子分光、二次イオン質量分析)について、以下の内容につき概説する。1. 表面分析の必要性、2. 表面分析法の原理、3. 表面分析法の応用例。

教科書・参考書等

必要に応じその都度紹介する。

関連科目・履修の条件等

本講義は化学専攻の必修科目であり、化学専攻および物質科学専攻の学生のみ受講可とする。

成績評価

出席状況と4名の教員の課すレポートを総合的に評価する。
なお、11回中7回以上の出席と、4名の教員がそれぞれ課すレポートを最低でも3つ提出していないものは、その時点で不可とする。

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