特性解析   Characterization

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担当教員
戸木田 雅利  渡辺 順次  野島 修一 
使用教室
木7-8(H135)  
単位数
講義:2  演習:0  実験:0
講義コード
6210
シラバス更新日
2010年3月22日
講義資料更新日
2010年3月22日
学期
前期  /  推奨学期:5

講義概要

高分子化合物を中心とした有機物質の特性解析(キャラクタリゼーション)の一般的な概念と方法について概説した後,分子の同定法,特性解析法,並びに各機器分析の特徴と具体的な解析方法について講述する。

講義の目的

高分子化合物の合成および構造物性解析を行う上で基礎となる機器分析の原理、データの意味とその解釈および測定の実際に関する知識を習得する。

講義計画

1. 分光法の基礎
2. 紫外-可視(UV-Vis)分光法
3. 赤外(IR)分光法
4. 核磁気共鳴(NMR)分光法(1)
5. 核磁気共鳴(NMR)分光法(2)
6. 質量分析法
7. 高分子の分子量
8. 高分子材料の光学的性質(1)
9. 高分子材料の光学的性質(2)
10. 熱分析
11. X線・光散乱法(1)
12. X線・光散乱法(2)

教科書・参考書等

L. M. Harwood, T. D. W. Claridge, Introduction to Organic Spectroscopy, Oxford University Press(「有機化合物のスペクトル解析入門」岡田恵次,小嵜正敏 訳(化学同人))
泉 美治他監修「機器分析のてびき 第2版」(化学同人)

関連科目・履修の条件等

有機化学、物理化学関連の科目をすべて履修していることが望ましい。

成績評価

中間試験および期末試験による。

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