機器分析概論(金属)   Introduction to instrumental analysis

文字サイズ 

担当教員
鈴木 俊明  鈴木 俊明  高倉 優  堤 建一  堤 建一 
使用教室
 
単位数
講義:1  演習:0  実験:0
講義コード
5756
シラバス更新日
2009年8月4日
講義資料更新日
2009年8月4日
学期
前期  /  推奨学期:5

講義概要

SEM,EPMA,SIMS,AES,ESCA,STM,SPM,ラマン分光,IR,メスバウアー分光,VSM,真空技術を用いた材料の状態分析方法について学ぶ。

このページのトップへ